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老化測(cè)試設(shè)備

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首頁(yè) > 產(chǎn)品大全 > TST200W-55溫度沖擊試驗(yàn)箱(三箱式)產(chǎn)品詳情
溫度沖擊試驗(yàn)箱(三箱式)圖片
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溫度沖擊試驗(yàn)箱(三箱式)

溫度沖擊試驗(yàn)箱(三箱式)

TST200W-55溫度沖擊試驗(yàn)箱擁有200升的測(cè)試容量以及-55℃~+150℃的沖擊范圍

TST200W-55溫度沖擊試驗(yàn)箱(三箱式)產(chǎn)品詳情 Details

概述

溫度沖擊試驗(yàn)箱能模擬高溫與低溫之間的瞬間變化環(huán)境,用于確定裝備在經(jīng)受周?chē)髿鉁囟鹊募眲∽兓瘯r(shí),是否產(chǎn)生物理?yè)p壞或性能下降。是航空、汽車(chē)、家電、科研等領(lǐng)域必備的測(cè)試設(shè)備,考核和確定檢測(cè)儀器、機(jī)械、電工、電子產(chǎn)品整機(jī)及零部件等在進(jìn)行高低溫沖擊試驗(yàn)后的參數(shù)及性能。

滿足試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)

GB/T2423.1﹣2001 試驗(yàn)A:低溫試驗(yàn)方法

GB/T2423.2﹣2001 試驗(yàn)B:高溫試驗(yàn)方法

GB/T2423.22﹣2001 試驗(yàn)N:溫度變化試驗(yàn)方法

GJB150.3A-2009 高溫試驗(yàn)

GJB150.4A-2009 低溫試驗(yàn)

GJB150.5A-2009 溫度沖擊試驗(yàn)

適用領(lǐng)域

TST200W-55溫度沖擊試驗(yàn)箱無(wú)法用于以下情況的測(cè)試:

易燃、易爆、易揮發(fā)性物質(zhì)試樣的試驗(yàn)或儲(chǔ)存

腐蝕性物質(zhì)試樣的試驗(yàn)或儲(chǔ)存

生物試樣的試驗(yàn)或儲(chǔ)存

強(qiáng)電磁發(fā)射源試樣的試驗(yàn)或儲(chǔ)存

通訊功能

TST200W-55溫度沖擊試驗(yàn)箱擁有RJ-45接口,具有本地和遠(yuǎn)程通訊功能,安裝好本公司提供的軟件后,在控制軟件中可以對(duì)設(shè)備進(jìn)行遠(yuǎn)程監(jiān)控,可以對(duì)設(shè)備進(jìn)行編程、開(kāi)機(jī)和停機(jī)等操作,通過(guò)該軟件可以記錄試驗(yàn)過(guò)程中的數(shù)據(jù)和曲線,并可以根據(jù)需要打印該數(shù)據(jù)和曲線。

曲線記錄功能

曲線實(shí)時(shí)存儲(chǔ),可顯示當(dāng)前曲線,歷史曲線可查詢顯示,具備曲線時(shí)標(biāo)功能,用U盤(pán)下載歷史數(shù)據(jù),可在專(zhuān)用軟件還原曲線并且生產(chǎn)Excel報(bào)表。

外接數(shù)據(jù)存儲(chǔ)功能

TST200W-55溫度沖擊試驗(yàn)箱擁有USB接口,配優(yōu)盤(pán)(容量不小于4G,不保修)一個(gè),PC機(jī)專(zhuān)用軟件光盤(pán)一張。

通過(guò)PC機(jī)專(zhuān)用軟件編制試驗(yàn)程序并導(dǎo)入控制器中;也可將控制器內(nèi)的程序?qū)隤C機(jī)進(jìn)行分析和管理。

TST200W-55溫度沖擊試驗(yàn)箱可將存儲(chǔ)在控制器內(nèi)記錄的試驗(yàn)曲線數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)存到優(yōu)盤(pán)上。通過(guò)PC機(jī)專(zhuān)用軟件直接顯示和打印試驗(yàn)數(shù)據(jù)/曲線;或?qū)⒂涗洈?shù)據(jù)轉(zhuǎn)換為可由Microsoft Office讀取的Access數(shù)據(jù)文件。

附屬功能

故障報(bào)警及原因

斷電保護(hù)功能

日歷定時(shí)功能(自動(dòng)啟動(dòng)及自動(dòng)停止運(yùn)行)

自診斷功能

使用環(huán)境要求

溫度:5℃~35℃

相對(duì)濕度:≤85%

氣壓:86kPa~106kPa

安裝環(huán)境要求

地面平整,設(shè)備安裝位置的傾斜度不超過(guò)1°

地面承重能力不小于600kg/m2

場(chǎng)地通風(fēng)良好

設(shè)備周?chē)鸁o(wú)強(qiáng)烈振動(dòng)

設(shè)備周?chē)鸁o(wú)強(qiáng)電磁場(chǎng)影響

設(shè)備周?chē)鸁o(wú)易燃、易爆、腐蝕性物質(zhì)和粉塵

設(shè)備周?chē)粲羞m當(dāng)?shù)氖褂眉熬S護(hù)空間:

TST200W-55溫度沖擊試驗(yàn)箱規(guī)格參數(shù)

內(nèi)容積(升)

200

工作室內(nèi)尺寸(mm)

W650 mm×H460 mm×D670 mm

設(shè)備外尺寸(mm)

W1710 mm×H1850 mm×D1870 mm

重量(kg)

1500

測(cè)試環(huán)境條件

環(huán)境溫度為+25℃、相對(duì)濕度≤85%、大氣壓力:86~106kpa

循環(huán)冷卻水溫≤+30℃(不結(jié)冰)、循環(huán)冷卻水供水壓力為0.3 MPa~0.45MPa

測(cè)試方法

GB/T 5170.2-2008

試驗(yàn)方式

三廂結(jié)構(gòu),氣動(dòng)風(fēng)門(mén)切換2溫區(qū)或3溫區(qū)

預(yù)熱上限溫度

+200℃

預(yù)冷下限溫度

﹣75℃

高溫沖擊范圍

+60℃~ +150℃

低溫沖擊范圍

-10℃~﹣55℃

升溫速率

+60℃→+200℃ ≤20min

降溫速率

+20℃→﹣70℃≤80min

溫度偏差

±2.0℃(空載)

溫度波動(dòng)度

≤±0.5℃(按GB/T 5170.2-1996)(空載)

溫度恢復(fù)時(shí)間

≤5min    (+150℃:30分鐘 ← →環(huán)境溫度:5分鐘 ← → -55℃:30分鐘)

溫度恢復(fù)條件

試樣:塑料封裝集成電路(均布),傳感器位置:試樣的上風(fēng)側(cè)

試樣重量:10KG

噪聲

A聲級(jí)≤75dB(A) (大門(mén)前1m離地面高度1.2m處,自由空間中)

標(biāo)準(zhǔn)配置

Φ50電纜孔:1個(gè)(位于箱體左側(cè),配2個(gè)膠塞)

樣品籃:2個(gè),承載能力(均布)30kg

試樣擱架: 4個(gè)

腳輪:4個(gè),移動(dòng)試驗(yàn)箱用

調(diào)整腳:4個(gè),支撐試驗(yàn)箱用

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