GB/T 2423.2-2008試驗B是關于《電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗B：高溫》的測試標準與2009-10-01日開始實施

GB/T 2423.2是GB/T 2423標準的第2部分，GB/T 2423標準的組成部分見資料性附錄NA。

本部分等同采用IEC 60068-2-2:2007《環(huán)境試驗第2-2部分：試驗試驗B：干熱》(英文版)。

本部分與IEC 60068-2-2：2007相比，主要做了下列編輯性修改：

本部分的名稱改為：《電工電子產品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗B：高溫》;

“本標準”一詞改為“本部分”;

——刪除了IEC 60068-2-2：2007前言;

——刪除了IEC 60068-2-2:2007引言，將其內容轉化為增加的資料性附錄NB的內容;

——增加了資料性附錄“GB/T 2423標準的組成部分”(見附錄NA);

增加了資料性附錄“試驗A:低溫和試驗B:高溫的分類代號小寫字母之間的關系”(見附錄NB)：

——刪除了第1章第1段中的“對于非散熱試驗樣品，”;

——第2章規(guī)范性引用文件一覽表增加了對GB/T 2423. 22的引用;

——4.3標題“溫度突變與溫度漸變試驗應用對比”改為“溫度漸變試驗”;

—— 6.8.2標題“絕對濕度”改為“濕度”。

為清晰起見，上述修改已在正文相應位置加了腳注。

本部分代替GB/T 2423. 2-2001《電工電子產品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗B：高溫》，與之相比，主要變化如下：

——刪除了試驗Ba：非散熱試驗樣品溫度突變的高溫試驗;

——刪除了附錄A、附錄B、附錄C、附錄D、附錄E、附錄F;

——增加了試驗Bc:散熱試驗樣品溫度漸變的高溫試驗 試驗樣品在整個試驗過程通電。

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